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J-GLOBAL ID：200903000899343986

金属製品の疵検査方法および装置と疵消去方法

Inventor：
水上 和実

About 水上 和実

, 
水野 薫

About 水野 薫


Applicant, Patent owner：
新日本製鐵株式会社

About 新日本製鐵株式会社


Agent (4)： 石田 敬 ,  鶴田 準一 ,  亀松 宏 ,  西山 雅也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003161020
Publication number (International publication number)：2004069681
Application date： Jun. 05, 2003
Publication date： Mar. 04, 2004
Summary：
【課題】金属製品の製造過程において金属表層に発生し、製造後も金属表層に残存する疵の組成および/または形態を正確に把握し、疵の発生箇所を特定する疵検査方法および装置を提供する。【解決手段】金属製品の製造過程で生成する表面疵を検査する方法において、(a)金属製品の表層と電極の間に電場を印加して、該表層上の表面疵と電極の間に、選択的にスパーク放電を発生させ、(b)上記放電による発光スペクトルを解析して、表面疵の組成および/または形態を特定し、さらに、(c)上記組成および/または形態に基づいて、表面疵の原因物質および/または発生箇所を特定することを特徴とする金属製品の疵検査方法。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
金属製品の製造過程で生成する表面疵を検査する方法において、 (a)金属製品の表層と電極の間に電場を印加して、該表層上の表面疵と電極の間に、選択的にスパーク放電を発生させ、 (b)上記放電による発光スペクトルを解析して、表面疵の組成および/または形態を特定する、 ことを特徴とする金属製品の疵検査方法。
IPC (1)：
G01N21/67
FI (1)：
G01N21/67 A
F-Term (10)：
2G043AA01 ,  2G043AA03 ,  2G043CA05 ,  2G043EA09 ,  2G043GA07 ,  2G043GB12 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043JA01 ,  2G043NA01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (10)
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