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J-GLOBAL ID:200903000903076815
誘電体薄膜素子の製造方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
原 謙三
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995186025
Publication number (International publication number):1997031645
Application date: Jul. 21, 1995
Publication date: Feb. 04, 1997
Summary:
【要約】【課題】 十分に酸素を取り込んだ酸化物誘電体薄膜を形成する。高誘電率、高絶縁性、高絶縁破壊耐圧等の優れた誘電特性を備えた誘電体薄膜素子の製造方法を提供する。【解決手段】 成膜室を350°Cまで昇温し、ターゲット表面を10分間予備スパッタする。その後、さらに10分間ターゲット表面をスパッタし、酸化物誘電体薄膜を成膜する。酸化物誘電体薄膜を成膜した後、成膜した試料を成膜室から取り出さずに、真空排気を止め、成膜室中に200Paの酸素分圧を導入し、350°Cで5分間保持し、その後基板を冷却する。
Claim (excerpt):
少なくとも電極と酸化物誘電体薄膜とを有する誘電体薄膜素子の製造方法において、成膜室内で所定の膜厚まで上記酸化物誘電体薄膜の形成を行った時点で、酸化物誘電体薄膜を成膜室から取り出さずに成膜室に成膜時よりも高い酸素分圧まで酸素を導入し、一定時間保持した後、基板を冷却することを特徴とする誘電体薄膜素子の製造方法。
IPC (6):
C23C 14/34
, C01B 13/14
, C04B 35/46
, C23C 14/08
, C23C 14/54
, H01L 21/283
FI (7):
C23C 14/34 S
, C01B 13/14 Z
, C23C 14/08 K
, C23C 14/54 B
, C23C 14/54 D
, H01L 21/283 S
, C04B 35/46 E
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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SrTiO3 薄膜の形成方法及び形成装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-020048
Applicant:松下電器産業株式会社
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特開平1-164703
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