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J-GLOBAL ID：200903000917431758

パラジウムめっき電気コンタクト

Inventor： イ・ユアン・ウェイ ,  ジョン・ロバート・ミラー
Applicant, Patent owner： アンプ インコーポレイテッド
Agent (1)： 日本エー・エム・ピー株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992161685
Publication number (International publication number)：1996167442
Application date： May. 29, 1992
Publication date： Jun. 25, 1996
Summary：

【要約】【目的】 耐久性が優れ且つ安価に製造可能なパラジウムめっき電気コンタクトを提供すること。【構成】 燐青銅等の金属基板を打抜き折曲げて電気コンタクト10を形成する。この接触部を含む選択された領域12に約30,000乃至140,000psiのマクロストレスとなるパラジウム層18を形成し、その表面に約75ミクロン程度の薄い軟質金めっき層20を形成する。

Claim (excerpt)：

電気コンタクトを構成する導電材料の少なくとも相手コンタクトとの接触部分の表面にめっきが施された電気コンタクトにおいて、該電気コンタクトの前記導電材料の少なくとも前記接触分に形成されたパラジウムめっき層と、該パラシウムめっき層上に形成された薄い軟質金めっき層とを具え、前記電気コンタクトの前記パラジウムめっき層に少なくとも30,000乃至約140,000psi の内部マクロストレスが生じるようにすることを特徴とするパラジウムめっき電気コンタクト。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭63-224165
  
• 特開昭61-288384
  
• 特開昭63-224165
  
• 特開昭61-288384