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J-GLOBAL ID：200903000945149642

電線劣化検査方法及び装置

Inventor： 安藤 仁 ,  武井 祐史
Applicant, Patent owner： 株式会社フジクラ
Agent (1)： 加川 征彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003424737
Publication number (International publication number)：2005181188
Application date： Dec. 22, 2003
Publication date： Jul. 07, 2005
Summary：

【課題】 架空送電線の内部劣化状況を容易に検査できるようにする。【解決手段】 架空送電線1に対して直角二方向からX線を照射し、架空送電線を透過した透過X線を受けたX線検出部3により直接的又は間接的に、前記直角二方向の2つの透視画像を得て、架空送電線の素線切れや腐食等の内部劣化状況を検査する。装置の管理や環境等に関して、装置の使用上の困難はあまりない。また、装置が安価でコンパクトに済み、また検査の作業性が良好である。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

架空送電線に対して概ね直角二方向からX線を照射し、架空送電線を透過した透過X線を受けたX線検出部により直接的又は間接的に、前記直角二方向の2つの透視画像を得て、架空送電線の内部劣化状況を検査することを特徴とする架空送電線の電線劣化検査方法。

IPC (1)：

G01N23/04

FI (1)：

G01N23/04

F-Term (21)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001DA09 ,  2G001GA03 ,  2G001GA13 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001JA16 ,  2G001KA03 ,  2G001KA20 ,  2G001LA11 ,  2G001MA06 ,  2G001NA06 ,  2G001NA16 ,  2G001QA03 ,  2G001SA29

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• γ線CTによる送電線の腐食診断方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-095266   Applicant：日立電線株式会社, 財団法人ファインセラミックスセンター