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J-GLOBAL ID：200903000965104017
CRT装置のカットオフ測定方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
藤本 博光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993043521
Publication number (International publication number)：1994261346
Application date： Mar. 04, 1993
Publication date： Sep. 16, 1994
Summary：
【要約】【目的】 CRT装置の蛍光面を撮像した映像信号をアナログ/ディジタル変換して画像メモリに格納した後、画像メモリの内容を加算することにより、ランダムノイズや量子化誤差を除去した高精度のカットオフ測定値を得る。【構成】 ラスター画像が表示されているCRT装置106の蛍光面を撮像装置101で撮像する工程と、撮像装置101から出力される映像信号を所定の画素毎にアナログ/ディジタル変換器102でディジタル信号に変換する工程と、画素毎にディジタル化された信号を画像メモリ103に格納する工程と、画像メモリ103の内容を加算器104で加算して信号の和を求める工程と、前記信号の和に基づいて、CRT装置のカットオフずれ量を計測する工程とを含むCRT装置のカットオフ測定方法である。
Claim (excerpt)：
CRT装置のカットオフ測定方法において、ラスター画像が表示されているCRT装置の蛍光面を撮像装置で撮像する工程と、撮像装置から出力される映像信号を所定の画素毎にアナログ/ディジタル変換器でディジタル信号に変換する工程と、画素毎にディジタル化された信号を画像メモリに格納する工程と、画像メモリの内容を加算して信号の和を求める工程と、前記信号の和に基づいて、CRT装置のカットオフずれ量を計測する工程とを含むことを特徴とするCRT装置のカットオフ測定方法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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