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J-GLOBAL ID：200903000998203452

光学ピックアップ装置

Inventor： 叶田 冬希郎 ,  川上 高
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 小池 晃 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996146341
Publication number (International publication number)：1997330525
Application date： Jun. 07, 1996
Publication date： Dec. 22, 1997
Summary：

【要約】【課題】 外来光の進入を防止するとともに、迷光の発生を防止する。【解決手段】 レーザ光束を発生させるレーザ半導体8と、レーザ光束が入射されてこのレーザ光束を光学記録媒体100の信号記録面103上に集光させる対物レンズ12と、光学記録媒体100の信号記録面103からの反射光束が入射されるビームスプリッタ10と、このビームスプリッタ10を通過した反射光束が入射されて非点収差を発生させるシリンドリカルレンズ13と、このシリンドリカルレンズ13を通過した反射光束を検出するフォトディテクタ14とを備える。ビームスプリッタ10とシリンドリカルレンズ13とは、黒色に着色されたホルダ17に収納される。

Claim (excerpt)：

光束を発生させる光源と、上記光束が入射されて光束を光学記録媒体の信号記録面上に集光させる対物レンズと、上記信号記録面からの上記光束の反射光が入射されるビームスプリッタと、上記ビームスプリッタを通過した上記光束の反射光が入射されて非点収差を発生させるシリンドリカルレンズと、上記シリンドリカルレンズを通過した上記光束の反射光を検出する光検出手段とを備え、上記ビームスプリッタと上記シリンドリカルレンズとは、黒色に着色されたホルダに収納されたことを特徴とする光学ピックアップ装置。

IPC (2)：

G11B 7/12 ,  G11B 7/135

FI (2)：

G11B 7/12 ,  G11B 7/135 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 半導体レーザ装置とこれを用いた光ピックアップ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-260573   Applicant：三洋電機株式会社
• 特開昭62-036752
  
• 特開昭62-036752