Pat
J-GLOBAL ID:200903000999665263
超音波撮像装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
井島 藤治 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002022927
Publication number (International publication number):2003225239
Application date: Jan. 31, 2002
Publication date: Aug. 12, 2003
Summary:
【要約】【課題】 圧迫圧力を検出する圧力センサと超音波探触子とを一体化し、Bモード画像と同時に圧迫圧力を計測して弾性パラメータを算定する超音波撮像装置を実現する。【解決手段】 圧力センサ部202を圧力伝達媒体である機能素子部201の背後に内蔵する探触子部101を用いて、圧迫圧力を検出し、さらに探触子部101で圧迫する前と後のBモード画像情報を得るためのBモード時間波形を機能素子部201で取得し、画像処理部で歪みおよび探触子開口面の圧力を求めて、Bモード画像各点の弾性パラメータを算出し、画像表示しているので、圧力センサ部202と機能素子部201が一体化された探触子部101からの情報のみで、Bモード画像各点の弾性パラメータを表示し、組織弾性像とすることを実現させる。
Claim (excerpt):
超音波を探触子開口面から被検体の撮像断面内に繰り返し送受信する探触子部と、前記探触子部の受信超音波エコーからBモード画像を生成するBモード処理部と、前記Bモード画像を記憶する記憶部と、前記記憶部のBモード画像情報を画像処理する画像処理部と、前記探触子部、前記Bモード処理部、前記記憶部および前記画像処理部を制御する制御部と、を備える超音波撮像装置であって、前記探触子部は、前記探触子開口面による前記被検体への圧迫圧力を検出する検出手段を有し、前記画像処理部は、前記探触子開口面による前記被検体への圧迫前後の前記Bモード画像情報を得るためのBモード時間波形から前記撮像断面の歪みを算出する算出手段と、前記圧迫前後の前記圧迫圧力情報並びに前記歪み情報に基づいて、前記撮像断面の弾性パラメータを算定する算定手段と、を備えることを特徴とする超音波撮像装置。
IPC (4):
A61B 8/14
, A61B 5/00 101
, G01S 7/52
, G01S 15/89
FI (3):
A61B 8/14
, A61B 5/00 101 M
, H04N 5/31
F-Term (42):
4C301AA01
, 4C301BB02
, 4C301CC02
, 4C301DD11
, 4C301DD30
, 4C301GA01
, 4C301GA20
, 4C301GB02
, 4C301HH32
, 4C301JB03
, 4C301JB29
, 4C301JC14
, 4C301JC20
, 4C301KK12
, 4C301LL03
, 4C301LL20
, 4C601BB23
, 4C601DD30
, 4C601GA01
, 4C601GB01
, 4C601GB03
, 4C601JB01
, 4C601JB02
, 4C601JB19
, 4C601JB34
, 4C601JB45
, 4C601JC15
, 4C601JC20
, 4C601JC21
, 4C601KK12
, 4C601KK23
, 4C601KK24
, 4C601LL01
, 4C601LL02
, 4C601LL04
, 4C601LL40
, 5C024AX09
, 5C024BX00
, 5C024CX00
, 5C024GX00
, 5C024HX55
, 5C024HX60
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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超音波診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-147957
Applicant:石原謙, 株式会社日立メディコ
-
特開平3-139338
-
土圧計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-049833
Applicant:ミネベア株式会社
-
超音波探触子及び超音波診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-172556
Applicant:アロカ株式会社
-
特開昭61-187844
-
弾性計測方法および弾性計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-200801
Applicant:中山淑, 富士通株式会社
-
生体組織性状診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-359549
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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