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J-GLOBAL ID：200903001040183797

シールド掘進時における地表面ないしは路盤の変位を測定する方法および路盤変位管理方法ならびに路盤変位管理装置

Inventor： 加島 豊 ,  近藤 紀夫 ,  富沢 勉 ,  保坂 博 ,  小林 隆治 ,  平林 勉 ,  大久保 健治 ,  高村 勝之進
Applicant, Patent owner： 大豊建設株式会社
Agent (1)： 高山 道夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001196807
Publication number (International publication number)：2003013687
Application date： Jun. 28, 2001
Publication date： Jan. 15, 2003
Summary：

【要約】【課題】 シールド掘進時における地表面ないしは路盤の変位を、非接触式距離測定器を使って正確に測定する方法を提供すること。【解決手段】 シールドトンネル33を構築するに当たり、シールド掘進路線35に沿い、地上より高い位置に、複数の固定位置を設け、前記固定位置にそれぞれ非接触式距離測定器としての光波式測距機44a,44bを設置し、掘進路線上部の地表面ないしは路盤の近傍に複数の計測点38を設け、シールドの掘進前,掘進中,掘進後の任意の時期に、前記光波式測距機44a,44bにより前記固定位置から計測点38までの距離を測定し、これらの測定した距離から固定位置と計測点38との鉛直距離を演算し、この鉛直距離からシールド掘進における地表面ないし路盤の変位を測定するように構成した。

Claim (excerpt)：

シールドトンネルを構築するに当たり、シールド掘進路線に沿い、地上より高い位置に、複数の固定位置を設け、前記固定位置にそれぞれ非接触式距離測定器を設置し、掘進路線上部の地表面ないしは路盤の近傍に複数の測点を設け、シールドの掘進前,掘進中,掘進後の任意の時期に、前記距離測定器により前記固定位置から測点までの距離を測定し、これらの測定した距離から固定位置と測点との鉛直距離を演算し、この鉛直距離からシールド掘進における地表面ないし路盤の変位を計測する方法。

IPC (4)：

E21D 9/00 ,  G01C 5/00 ,  G01C 7/02 ,  G01S 17/42

FI (4)：

E21D 9/00 Z ,  G01C 5/00 Z ,  G01C 7/02 ,  G01S 17/42

F-Term (7)：

5J084AA04 ,  5J084AB17 ,  5J084AC07 ,  5J084AD02 ,  5J084BA03 ,  5J084DA07 ,  5J084EA04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特開平4-264228
  
• シールド測量方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-005572   Applicant：株式会社青木建設
• 特開平1-214692