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J-GLOBAL ID：200903001051303972

試験装置、プログラム、及び記録媒体

Inventor： 山田 達也
Applicant, Patent owner： 株式会社アドバンテスト
Agent (1)： 龍華 明裕
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005330775
Publication number (International publication number)：2007139474
Application date： Nov. 15, 2005
Publication date： Jun. 07, 2007
Summary：

【課題】同一のパターンプログラムを用いて、複数パスの試験を行うことができる試験装置を提供する。【解決手段】 予め定められた試験周期毎に、与えられるタイミングに応じて被測定信号の信号値を検出するタイミング比較部と、試験周期毎に、互いに異なる第1のタイミング及び第2のタイミングのいずれかを、タイミング比較部に供給するタイミング発生部と、所定の試験周期毎に、第1のタイミングにおける信号値の期待値である第1の期待値、及び第2のタイミングにおける信号値の期待値である第2の期待値を生成するパターン発生部と、それぞれの試験周期において、タイミング比較部に第1のタイミング及び第2のタイミングのいずれが供給されたかに応じて、第1の期待値及び第2の期待値のいずれかを選択する期待値選択部とを備える試験装置を提供する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

被試験デバイスが出力する被測定信号に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する試験装置であって、 予め定められた所定の試験周期毎に、与えられるタイミングに応じて前記被測定信号の信号値を検出するタイミング比較部と、 前記試験周期毎に、互いに異なる複数のタイミングのいずれかを、前記タイミング比較部に供給するタイミング発生部と、 前記所定の試験周期毎に、それぞれの前記タイミングにおける前記信号値の期待値をそれぞれ生成するパターン発生部と、 それぞれの前記試験周期において、前記タイミング比較部にいずれの前記タイミングが供給されたかに応じて、複数の前記期待値のいずれかを選択する期待値選択部と、 前記期待値選択部が選択した前記期待値と、前記タイミング比較部が検出した前記信号値とを比較するレベル比較部と を備える試験装置。

IPC (3)：

G01R 31/319 ,  G01R 31/318 ,  G11C 29/10

FI (3)：

G01R31/28 R ,  G01R31/28 Q ,  G11C29/00 657B

F-Term (15)：

2G132AA08 ,  2G132AB01 ,  2G132AC03 ,  2G132AD06 ,  2G132AE11 ,  2G132AE14 ,  2G132AE19 ,  2G132AG01 ,  2G132AG08 ,  2G132AH05 ,  2G132AL09 ,  5L106AA00 ,  5L106DD22 ,  5L106EE02 ,  5L106GG05