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J-GLOBAL ID：200903001101718613

距離・速度計および距離・速度計測方法

Inventor：
上野 達也

About 上野 達也


Applicant, Patent owner：
株式会社山武

About 株式会社山武


Agent (2)： 山川 政樹 ,  山川 茂樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005134980
Publication number (International publication number)：2006313080
Application date： May. 06, 2005
Publication date： Nov. 16, 2006
Summary：
【課題】自己結合型のレーザ計測器の利点を活かしつつ、測定対象との距離と測定対象の速度を計測する。【解決手段】距離・速度計は、半導体レーザ1と、半導体レーザ1に、発振波長が連続的に増加する第1の発振期間と発振波長が連続的に減少する第2の発振期間とを交互に繰り返させるレーザドライバ4と、半導体レーザ1の光出力を電気信号に変換するフォトダイオード2と、フォトダイオード2の出力に含まれる、半導体レーザ1の出力光と測定対象11からの戻り光との半導体レーザ1内での干渉に基づくパルスの数を、第1の発振期間と第2の発振期間の各々について数える計数手段5〜8と、半導体レーザ1の最小発振波長と最大発振波長と計数手段の計数結果から測定対象11との距離及び測定対象11の速度を算出する演算手段9とを有する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
測定対象にレーザ光を放射する半導体レーザと、 発振波長が連続的に単調増加する期間を少なくとも含む第1の発振期間と発振波長が連続的に単調減少する期間を少なくとも含む第2の発振期間とが交互に少なくとも2期間存在するように前記半導体レーザを動作させるレーザドライバと、 前記半導体レーザから放射されたレーザ光と前記測定対象からの戻り光とを電気信号に変換する受光器と、 この受光器の出力信号に含まれる、前記半導体レーザから放射されたレーザ光と前記測定対象からの戻り光とによって生じる干渉波形の数を、前記第1の発振期間の少なくとも一部と前記第2の発振期間の少なくとも一部の各々について数える計数手段と、 この計数手段によって干渉波形の数を数える期間における最小発振波長と最大発振波長と前記計数手段の計数結果とから前記測定対象との距離及び前記測定対象の速度の少なくとも一方を算出する演算手段とを有することを特徴とする距離・速度計。
IPC (3)：
G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G01P 3/36
FI (3)：
G01B11/00 G ,  G01C3/06 Z ,  G01P3/36 Z
F-Term (28)：
2F065AA06 ,  2F065BB15 ,  2F065DD11 ,  2F065DD14 ,  2F065FF52 ,  2F065GG06 ,  2F065GG25 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ18 ,  2F065NN06 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ42 ,  2F065QQ51 ,  2F065SS03 ,  2F065SS13 ,  2F112AD10 ,  2F112BA03 ,  2F112CA12 ,  2F112DA25 ,  2F112EA01 ,  2F112FA14 ,  2F112FA19 ,  2F112FA27
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (12)
  • 特開平2-112784
  • 距離測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-315120   Applicant：三菱電機株式会社
  • 特開昭63-201584
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