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J-GLOBAL ID：200903001166480541
光学ヘッドの検査方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
福島 康文
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992043619
Publication number (International publication number)：1993242545
Application date： Feb. 28, 1992
Publication date： Sep. 21, 1993
Summary：
【要約】【目的】光磁気ディスク媒体に記録されている情報を読み取る際に使用される光学ヘッドの組立て途中において波長板が正確に組立てられているかを検査する方法に関し、簡易な方法で正確に光学ヘッド中の波長板の向きを検査可能とすることを目的とする。【構成】光磁気ディスク媒体で反射されて来た信号光の偏光角を回転させて偏光ビームスプリッタ9に入射するための波長板8を備えた光学ヘッドにおいて、該波長板8の組み込み方向を検査する際に、 直線偏光16を発する光源14と前記の被検査波長板8との間に、検査用の波長板15を配置することで(または直線偏光16を発生する光源14を、その光軸の回りに回転させることで)、被検査波長板8に入射する直線偏光17を予め所定の角度回転させ、 偏光ビームスプリッタ9の透過光と反射光との光量に大きな差が発生するように構成する。
Claim (excerpt)：
光磁気ディスク媒体で反射されて来た信号光の偏光角を回転させて偏光ビームスプリッタ9に入射するための波長板8を備えた光学ヘッドにおいて、該波長板8の組み込み方向を検査する際に、直線偏光16を発する光源14と前記の被検査波長板8との間に、検査用の波長板15を配置することで、被検査波長板8に入射する直線偏光17を予め所定の角度偏光させ、偏光ビームスプリッタ9の透過光と反射光との光量に大きな差が発生するようにしたことを特徴とする光学ヘッドの検査方法。
Patent cited by the Patent：
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