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J-GLOBAL ID：200903001221493860

LSIテストデータ生成装置

Inventor： 筒井 俊明
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 田澤 博昭 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992357280
Publication number (International publication number)：1994194418
Application date： Dec. 24, 1992
Publication date： Jul. 15, 1994
Summary：

【要約】【目的】 LSI内部における隣接した配線間の短絡故障を検出するためのLSIテストデータを作成できるLSIテストデータ生成装置を得る。【構成】 信号値相異状態判別手段により、互いに異なる値になると判断されたときのLSI出力信号データに対するLSI入力信号データをLSIテスタ入力データに変換する入力信号データ変換手段と、互いに異なる値になると判断されたときの上記LSI出力信号データをLSIテスタ入力用期待値データに変換する出力信号データ変換手段とを備えたものである。

Claim (excerpt)：

所定の最小配線間隔よりも小さい配線間隔で配線されている信号線間の隣接配線データをLSIレイアウト設計データから抽出する隣接配線データ抽出手段と、その隣接配線データ抽出手段により抽出した隣接配線データに対しLSI論理設計データとLSI入力信号データを基にシミュレーションを行なうことによりLSI出力信号データを得るLSI出力信号生成手段と、そのLSI出力信号生成手段により得られたLSI出力信号データを基に上記所定の最小配線間隔よりも小さい配線間隔で配線されている信号線間の信号値において互に異なる値となる状態を判断する信号値相異状態判別手段と、その信号値相異状態判別手段により互に異なる値になると判断されたときの上記LSI出力信号データに対するLSI入力信号データをLSIテスタ入力データに変換する入力信号データ変換手段と、上記信号値相異状態判別手段により互に異なる値になると判断されたときの上記LSI出力信号データをLSIテスタ入力用期待値データに変換する出力信号データ変換手段とを備えたLSIテストデータ生成装置。

IPC (3)：

G01R 31/28 ,  G06F 11/22 330 ,  G06F 15/60 360

FI (2)：

G01R 31/28 Q ,  G01R 31/28 F