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J-GLOBAL ID：200903001262876154

発光分光分析における金属サンプル不良放電面の設定替え方法

Inventor： 浅沼 吉郎
Applicant, Patent owner： 新日本製鐵株式会社
Agent (1)： 矢葺 知之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991211051
Publication number (International publication number)：1993052752
Application date： Aug. 22, 1991
Publication date： Mar. 02, 1993
Summary：

【要約】【目的】 金属材料中の添加元素とか介在する元素の量を発光分光分析法で分析する場合の金属サンプル不良放電面の設定替え方法を提供する。【構成】 溶融金属から採集した凝固金属サンプルを電気的に放電し、発光する光強度を光電変換して金属中元素を定量する発光分光分析法において、放電過程における凝固金属サンプルの基部金属元素の光強度測定値を設定光強度値と比較し、連続して複数点の光強度測定値が設定光強度値に至らない場合は放電を停止し、該凝固金属サンプルの放電位置を変更する。

Claim (excerpt)：

溶融金属から採取した凝固金属サンプルを電気的に放電し、発光する光強度を光電変換して金属中元素を定量する発光分光分析法において、放電過程における凝固金属サンプルの基部金属元素の光強度測定値を設定光強度値と比較し、連続して複数点の光強度測定値が設定光強度値に至らない場合は放電を停止し、該凝固金属サンプルの放電位置を変更することを特徴とする発光分光分析における金属サンプル不良放電面の設定替え方法。