Pat

J-GLOBAL ID：200903001301794454

測量方法

Inventor： 神崎 正 ,  戸井田 博 ,  西沢 修一 ,  仲野 孝一
Applicant, Patent owner： 大成建設株式会社
Agent (1)： 山口 朔生 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991324119
Publication number (International publication number)：1993133747
Application date： Nov. 13, 1991
Publication date： May. 28, 1993
Summary：

【要約】【目的】GPSを使用してしかも作業効率よく多数の点を迅速に測定することのできる測量方法を提供することを目的とする。【構成】すなわち本発明は、少なくとも4個の衛星を使用し、それらの衛星と既知点Aとの距離を一点測位法によって求め、既知点Aと未知点Bとの距離を、AとBとの間で衛星から電波の届く時間差によって求め、一点測位法によって求めたA点の座標の概略値を採用し、その時の衛星からA点までの距離を算出し、算出した距離に、時間差によってもとめたAB間の距離を加え、この値を使用して一点測位法によってB点の座標を計算し、こうしてA点とB点の座標差を正確に求め、既知点Aの座標を設定することによって、B点の座標を、AB間の座標差分を加えて求めることを特徴とする、測量方法である。

Claim 1：

少なくとも4個の衛星を使用し、それらの衛星と既知点Aとの距離を一点測位法によって求め、既知点Aと未知点Bとの距離を、衛星から電波の届く時間差によって求め、一点測位法によって求めたA点の座標の概略値を採用し、その時の衛星からA点までの距離を算出し、算出した距離に、時間差によってもとめたAB間の距離を加え、この値を使用して一点測位法によってB点の座標を計算し、こうしてA点とB点の座標差を正確に求め、既知点Aの座標を設定することによって、B点の座標を、AB間の座標差分を加えて求めることを特徴とする、測量方法。

IPC (2)：

G01C 15/00 ,  G01S 5/14

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開平3-063310
  
• 特開平3-068884
  
• 特開昭63-187174
  
• 特開平1-138479
  
• 特開平1-138479