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J-GLOBAL ID：200903001359942275

光変調特性測定装置

Inventor： 秋山 浩二 ,  吉武 哲
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Agent (1)： 小沢 信助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991249973
Publication number (International publication number)：1993087685
Application date： Sep. 30, 1991
Publication date： Apr. 06, 1993
Summary：

【要約】【目的】光変調器の光変調特性を、高S/N比、高精度で測定できる光変調特性測定装置を実現する。【構成】第1の半導体レーザ1の出力光を被測定光変調器2に入射し、被測定光変調器2の出力光ロと第2の半導体レーザ21の出力光リとのビ-ト周波数を光検出器4で検出し、光検出器4の位相変調出力を位相復調回路23で振幅変調信号に戻した後、振幅を振幅検出回路24で検出し、第1の発振器6の出力信号との位相差を位相検出回路25で検出し、位相検出回路25の出力と振幅検出回路24の出力と第1の発振器6の周波数を掃引する第2の発振器26の出力に基づいて被測定光変調器2の位相変調特性を測定する。

Claim (excerpt)：

被測定光変調器にその出力光を入射する第1の半導体レーザと、前記被測定光変調器を駆動する第1の発振器と、第2の半導体レーザと、この第2の半導体レーザの出力光と前記被測定光変調器の出力光とを合波する光学手段と、この光学手段からの出力光を入射して前記第1の半導体レーザと前記第2の半導体レーザのビ-ト周波数を検出する光検出器と、この光検出器の出力を位相復調する位相復調回路と、この位相復調回路から出力される復調信号の振幅を検出する振幅検出回路と、前記復調信号と前記第1の発振器からの発振信号との位相差を検出する位相検出回路と、前記第1の発振器の周波数を掃引する第2の発振器とを備え、位相検出回路,振幅検出回路および第2の発振器の出力に基づいて被測定光変調器の変調特性を測定することを特徴とする光変調特性測定装置。