Pat
J-GLOBAL ID:200903001375593990

解像度測定方法、装置及びプログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 松浦 憲三
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005282787
Publication number (International publication number):2007096699
Application date: Sep. 28, 2005
Publication date: Apr. 12, 2007
Summary:
【課題】目視による解像度(解像感)に一致する解像度を測定できるようにする。【解決手段】解像度測定対象である撮像装置により解像度測定用チャートを撮像し、そのチャート画像を入力する。前記チャート画像のコントラスト測定部分の白パッチの輝度値A及び黒パッチの輝度値Bを算出する(ステップS102、S104)。白パッチと黒パッチの輝度値の差分C(=A-B)を算出し(ステップS106)、その差分C(即ち、コントラストの大きさ)に応じて解像度判定用の閾値を設定する(ステップS100、S112)。この設定された閾値に基づいて解像度判定を行い(ステップS110)、目視による解像度(解像感)と一致する解像度測定を可能にする。【選択図】 図7
Claim (excerpt):
解像度測定部分とコントラスト測定部分とを有する解像度測定用チャートを、解像度測定対象である撮像装置により撮像する工程と、 前記撮像した前記解像度測定用チャートを示すチャート画像を入力する工程と、 前記チャート画像のコントラスト測定部分の画像の輝度差又は輝度比を算出する工程と、 前記算出した輝度差又は輝度比に基づいて解像度判定用の閾値を設定する工程と、 前記チャート画像の解像度測定部分の画像の振幅値を算出する工程と、 前記算出した振幅値が前記閾値を超えるか否かによって解像しているか否かを判定する工程と、 を含むことを特徴とする解像度測定方法。
IPC (1):
H04N 17/00
FI (1):
H04N17/00 K
F-Term (3):
5C061BB02 ,  5C061BB03 ,  5C061BB05
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)

Return to Previous Page