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J-GLOBAL ID：200903001392300890
非破壊検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
越場 隆
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994182884
Publication number (International publication number)：1995234205
Application date： Jul. 12, 1994
Publication date： Sep. 05, 1995
Summary：
【要約】【構成】磁気的に安定した検査領域を含む領域を画成する磁気遮蔽容器7と、磁気遮蔽容器7の内部の検査領域に所定の磁界を形成する磁界発生手段6と、SQUIDを用いて検査領域内の磁界変動を検出する磁気センサ2と、磁気センサ2を冷却する冷却手段(3、4)とを一体に備えた検査装置であり、被検査物1が検査装置の検査領域内に常に位置するように、所定の間隔を維持しつつ被検査物1に沿って搬送できるように構成されている。
Claim (excerpt)：
磁気的に安定した検査領域を含む領域を画成する磁気遮蔽容器と、該検査領域に所定の磁界を形成する磁界発生手段と、SQUIDを用いて該検査領域内の磁界の変動を検出する磁気センサと、該磁気センサを冷却する冷却手段とを一体に備えた検査装置であり、被検査物が該検査装置の検査領域内に常に位置するように、該非検査物に対して所定の間隔を維持しつつ該被検査物に沿って搬送できるように構成されていることを特徴とする非破壊検査装置。
Patent cited by the Patent：
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