Pat

J-GLOBAL ID：200903001412547987

電子レベル用標尺と電子レベル

Inventor： 熊谷 薫 ,  大友 文夫
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 和泉 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992191696
Publication number (International publication number)：1995004959
Application date： Jun. 24, 1992
Publication date： Jan. 10, 1995
Summary：

【要約】[目的] 本発明は電子レベルと、これに使用する電子レベル用標尺に係わり、特に電子レベルが、電子レベル用標尺に等間隔で順次配列された少なくとも3種類のパターンを読み取り、読み取られた信号をフーリエ変換することにより、高低差を算出する電子レベルを提供することを目的とする。[構成] 本発明の電子レベル用標尺は、第1のパターン、第2のパターン、場合によっては第3のパターンを、測長方向に等間隔で順次配列し、第1のパターンと第2のパターンとは、互いに異なる周期のパータン幅で形成し、第3のパターンは等パターン幅に形成している。そして本発明の電子レベルは、パターン検出部が、第1のパターン、第2のパターン、場合によっては第3のパターンを読み取り、基準信号形成部が、パターン検出部で検出された検出信号から基準信号を形成し、パターン信号形成部が、第1のパターン信号と第2のパターン信号を形成し、算出部が、視準線付近の第1のパターン信号と第2のパターン信号から高低差を算出する様になっている。

Claim (excerpt)：

第1周期で変調された第1パターンと、該第1周期と異なる第2周期で変調された第2パターンとを有し、前記第1パターンと第2パターンとを測長方向に等ピッチで順次配列することにより構成された電子レベル用標尺。