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J-GLOBAL ID：200903001456571834

距離測定装置、及び距離測定方法

Inventor： 青山 千秋
Applicant, Patent owner： 本田技研工業株式会社
Agent (1)： 志賀 正武 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000328284
Publication number (International publication number)：2002131016
Application date： Oct. 27, 2000
Publication date： May. 09, 2002
Summary：

【要約】【課題】 撮像するカメラのダイナミックレンジを変えることなく、近い物体から遠い物体までを測定することができる光切断法を用いた距離測定装置を提供する。【解決手段】 自己が発したスリット光の反射光を撮像し、スリット光の発光位置と撮像位置の位置関係から測定対象物体までの距離を測定する距離測定装置であって、スリット光の物体表面における反射光を撮像する画像取得手段と、画像取得手段の走査時間内おいて発せられるスリット光の発光時間を制御して画像取得手段における受光強度を変化させる発光制御手段とを備える。

Claim (excerpt)：

自己が発したスリット光の反射光を撮像し、スリット光の発光位置と撮像位置の位置関係から測定対象物体までの距離を測定する距離測定装置であって、前記距離測定装置は、前記スリット光の前記物体表面における反射光を撮像する画像取得手段と、前記画像取得手段の走査時間内おいて発せられるスリット光の発光時間を制御して前記画像取得手段における受光強度を変化させる発光制御手段と、を備えたことを特徴とする距離測定装置。

IPC (5)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G01B 11/25 ,  G01C 3/06 ,  G01S 17/46

FI (5)：

G01B 11/00 H ,  G01C 3/06 Z ,  G01S 17/46 ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 E

F-Term (46)：

2F065AA06 ,  2F065AA24 ,  2F065AA51 ,  2F065CC00 ,  2F065DD06 ,  2F065EE00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065FF63 ,  2F065GG04 ,  2F065GG08 ,  2F065HH05 ,  2F065HH06 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL08 ,  2F065LL42 ,  2F065NN02 ,  2F065NN08 ,  2F065NN20 ,  2F065PP25 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ05 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F112AD03 ,  2F112CA04 ,  2F112CA12 ,  2F112DA13 ,  2F112DA19 ,  2F112DA25 ,  2F112FA07 ,  2F112FA21 ,  2F112FA45 ,  5J084AA05 ,  5J084AD05 ,  5J084AD07 ,  5J084BA03 ,  5J084BA34 ,  5J084BB02 ,  5J084BB07 ,  5J084CA03 ,  5J084EA04