Pat

J-GLOBAL ID：200903001467063091

メモリ診断装置

Inventor： 岡本 啓二
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993254167
Publication number (International publication number)：1995110790
Application date： Oct. 12, 1993
Publication date： Apr. 25, 1995
Summary：

【要約】【目的】 メモリ診断時間を短縮する。【構成】 複数のブロックから構成されるメモリにおいてブロックの同一アドレスに対して同時にデータを読み書きする手段2と、データの期待値を格納する手段3と、メモリから読み出したデータと期待値を比較する手段をブロック毎に設けることにより、全てのブロックを同時に診断できるメモリ診断装置である。【効果】 本発明のメモリ診断方式を用いることにより、メモリ容量を増加させる場合でもブロックサイズを変化させずに同一サイズのブロック数を増せば、診断に必要な時間は増加しない。

Claim 1：

複数のブロックから構成されるメモリにおいて、前記ブロックの同一アドレスに対して同時にデータを読み書きする手段と、データの期待値を格納する手段と、前記ブロックから読み出したデータと期待値を比較する手段と、前記ブロックの比較結果を格納する手段を有することを特徴とするメモリの診断装置。