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J-GLOBAL ID：200903001527510351

分光光度計

Inventor：
藤田 健

About 藤田 健


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 野口 繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006250167
Publication number (International publication number)：2008070274
Application date： Sep. 15, 2006
Publication date： Mar. 27, 2008
Summary：
【課題】不必要に広い波長範囲に対応する受光素子の信号強度を低下させることなく、飽和しやすい受光素子の蓄積電荷量を低減して飽和しないようにする。 【解決手段】光源2の発光スペクトルを測定する(ステップS1)。光源2の発光スペクトルから、スペクトル強度の突出した波長帯域のみが上回るようなしきい値を設定する(ステップS2)。しきい値を上回る波長帯域のピーク値と設定されたしきい値との比率を求める(ステップS3)。しきい値以下の波長帯域に対応する受光素子の電荷蓄積時間を、いずれの受光素子においても飽和しないような電荷蓄積時間で最も長い電荷蓄積時間に設定する(ステップS4)。しきい値を上回る波長帯域のピーク値としきい値の比率に基づいて、しきい値を上回る波長帯域に対応する受光素子の電荷蓄積時間を設定する(ステップS5)。 【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
光源と、前記光源からの光を分光する光学系と、前記光学系により分光された光を受光して光電変換を行なう複数の受光素子が分光光に対応して配列されたフォトダイオードアレイ、測定光の光路上に配置された試料室及び前記フォトダイオードアレイの各受光素子に蓄積された電荷を読み出す信号読出し部からなる受光部と、を備えた分光光度計において、 前記受光部は前記フォトダイオードアレイの受光素子ごとに電荷蓄積時間が設定できるものであって、 前記フォトダイオードアレイの各受光素子の電荷蓄積時間を制御する制御部をさらに備え、 前記制御部は、前記光源の発光スペクトルにおいて予め設定されたしきい値を上回るスペクトル強度を示す波長帯域に対応する受光素子の電荷蓄積時間を相対的に短くすることを特徴とする分光光度計。
IPC (3)：
G01J 3/36 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/33
FI (3)：
G01J3/36 ,  G01N21/27 Z ,  G01N21/33
F-Term (17)：
2G020CB07 ,  2G020CB26 ,  2G020CB33 ,  2G020CB43 ,  2G020CC04 ,  2G020CC42 ,  2G020CC63 ,  2G020CD03 ,  2G020CD24 ,  2G020CD56 ,  2G020CD57 ,  2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059JJ05 ,  2G059KK04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 分光光度計
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-146882   Applicant：株式会社島津製作所
  • 実開平5-79451号公報
Cited by examiner (6)
  • 分光測光装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-167587   Applicant：株式会社東芝
  • 特開昭54-111878
  • マルチチャンネル型分光光度計
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-307503   Applicant：株式会社島津製作所
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