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J-GLOBAL ID:200903001533963392
はんだ接合部の疲労評価方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
廣澤 勲
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002277077
Publication number (International publication number):2004119434
Application date: Sep. 24, 2002
Publication date: Apr. 15, 2004
Summary:
【課題】熱サイクルによるはんだ接合部の組織変化を評価パラメータとして利用して、高精度での信頼性評価を可能としたはんだ接合部の疲労評価方法を提供する。【解決手段】Snを主成分とするはんだの接合部の疲労評価方法において、はんだ接合部の切断面を電子顕微鏡により拡大して、Sn相20やAg3Sn相22の相寸法dを測定し、この測定値dを4乗して相成長評価パラメータSとする。はんだ接合部のはんだに疲労亀裂が生じる相成長評価パラメータSiと熱疲労亀裂発生寿命Niから、この両者の関係式の係数を決定する。この評価パラメータSの増加の変化率ΔSから、はんだ接合部のはんだに疲労亀裂が生じるまでの熱サイクルによる疲労寿命Niを推定する。【選択図】 図1
Claim 1:
Snを主成分とする非鉛はんだの接合部の疲労評価方法において、このはんだ接合部の断面のSn相の相境界で区切られた相寸法を、複数個について測定し、この相寸法の略平均値から得られる値を評価パラメータとして、この評価パラメータの変化の割合を基にして、上記はんだ接合部の疲労を評価することを特徴とするはんだ接合部の疲労評価方法。
IPC (4):
H05K3/34
, B23K1/00
, G01N33/20
, H01L21/60
FI (4):
H05K3/34 512A
, B23K1/00 A
, G01N33/20 P
, H01L21/60 321Y
F-Term (12):
2G055AA05
, 2G055AA08
, 2G055BA11
, 2G055BA14
, 2G055CA13
, 2G055EA08
, 5E319AC01
, 5E319CD51
, 5E319CD52
, 5E319GG03
, 5F044LL01
, 5F044RR00
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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はんだ付け方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-117657
Applicant:松下電器産業株式会社
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γ’相析出強化型合金の残余寿命推定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-029768
Applicant:株式会社日立製作所
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特開平3-230509
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基板はんだ接合部の劣化検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-015064
Applicant:株式会社東芝
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (2)
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