Pat
J-GLOBAL ID:200903001615045316
事務品質管理装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (8):
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 峰 隆司
, 福原 淑弘
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007230436
Publication number (International publication number):2009064170
Application date: Sep. 05, 2007
Publication date: Mar. 26, 2009
Summary:
【課題】事務規定情報の改定の際の当該事務規定情報とリスク管理自己評価情報の関係の適正化を支援する。【解決手段】記憶装置4の事務規定情報記憶部42に記憶される事務規定データベース上の項目のうち規定内容の改定対象の項目が指定され、当該項目の規定内容が入力されると、抽出処理部6は、リスク管理情報記憶部41に記憶されるリスク管理自己評価データベースの記述のうち、指定済み項目と関連する記述を特定する。通知処理部7は、リスク管理自己評価データベース上の情報のうち、抽出処理部6が特定した記述に下線を付した情報を出力装置3に表示させる。【選択図】 図1
Claim 1:
予め想定した損失が事務処理に伴って発生する事を回避するための管理情報を前記事務処理における予め区分された項目ごとに記憶する管理情報記憶手段と、
前記事務処理の予め区分された項目ごとの規定でなる事務規定情報を記憶する規定情報記憶手段と、
前記管理情報記憶手段に記憶される管理情報の項目および前記規定情報記憶手段に記憶される事務規定情報の項目の関連を示す情報を記憶する関連情報記憶手段と、
前記規定情報記憶手段に記憶される事務規定情報の一項目の規定の修正入力を受け付ける入力手段と、
前記管理情報記憶手段に記憶される管理情報の項目のうち、前記入力手段により入力された規定の項目と関連する項目を前記関連情報記憶手段に記憶される情報をもとに抽出する抽出手段と、
前記抽出手段により抽出した項目を通知する通知手段と
を備えたことを特徴とする事務品質管理装置。
IPC (1):
FI (1):
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
-
オペレーショナルリスク計量化システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-339637
Applicant:株式会社日立製作所
-
情報処理システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-150914
Applicant:株式会社東芝, 東芝ソリューション株式会社
-
事務処理支援システム及び事務処理支援方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-054183
Applicant:東芝ソリューション株式会社, 株式会社東芝
Return to Previous Page