微弱発光測定装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993231558
Publication number (International publication number)：1995083829
Application date： Sep. 17, 1993
Publication date： Mar. 31, 1995
Summary：

【要約】【目的】一次元あるいは二次元の位置情報を取り出すことのできる微弱発光測定装置を提供する。【構成】本発明によれば、イメージ管の螢光面上に堆積されたメタルバック電極から検出タイミングが得られるので、位置信号を得るためのアノードから検出タイミングを求めるのと等価になる。また、螢光面の残像特性を利用して、電子管の外部に設けた光電変換型撮像デバイスで位置信号を求め得る。

Claim (excerpt)：

励起されて微弱発光する試料に励起光パルスを入射するパルス光源と、前記励起光パルスの入射タイミングに同期した基準時間パルスを発生する基準時間パルス発生手段と、空間的な拡がりをもって入射された前記微弱発光を単一光子レベルで検出することにより、検出タイミングに同期した検出時間パルスと、前記微弱発光の検出された空間的位置に応じた位置信号とを出力する微弱発光検出手段と、前記基準時間パルスと前記検出時間パルスのタイミングの時間差に対応した時間差信号を出力する時間差信号出力手段と、前記パルス光源による多数回の励起ごとに、前記位置信号と前記時間差信号を対応させて集積するデータ処理手段とを備え、前記微弱発光検出手段は、前記微弱発光に応答して光電子を放出する光電面と、この光電子を位置情報を保持した状態で増倍する増倍手段と、増倍電子の入射により発光する螢光面と、この螢光面の前面に堆積されたメタルバック電極とを含むイメージ管を有し、前記検出時間パルスは前記メタルバック電極の電位変化にもとづき出力され、前記位置信号は前記螢光面における光学像を光電変換することにより出力されるよう構成されていることを特徴とする微弱発光測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/64 , G01J 11/00

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

特開昭61-266942
特開昭54-002789
特開昭61-148352

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