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J-GLOBAL ID：200903001660047192

セラミックスライニング構造及びその摩耗度測定方法

Inventor： 永田 憲史 ,  井口 真仁
Applicant, Patent owner： 秩父小野田株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993354763
Publication number (International publication number)：1995190708
Application date： Dec. 24, 1993
Publication date： Jul. 28, 1995
Summary：

【要約】【目的】 摩耗の状況が把握でき、正確な寿命予測ができるセラミックスライニング構造及びその摩耗度測定方法を提供する。【構成】 母材に対して接着剤又は充填材によりセラミックスをライニングしたセラミックスライニング構造の摩耗度を測定するにあたり、ライニングしたセラミックスに対して垂直方向に装着したプラグ部材に取付けた摩耗検出体の抵抗値若しくは導電性の有無を検出することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

母材に対して接着剤又は充填材によりセラミックスをライニングしたセラミックスライニング構造において、摩耗検出体を取付けたプラグ部材をライニングしたセラミックスに対して垂直方向に装着したことを特徴とするセラミックスライニング構造。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭62-083602
  
• 特開昭62-083602