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J-GLOBAL ID：200903001709382790

管内検査装置における欠陥判別方法及びセンサの校正方法

Inventor： 増子 徳茂 ,  陶山 毅一
Applicant, Patent owner： 東京瓦斯株式会社
Agent (1)： 細江 利昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000184059
Publication number (International publication number)：2002005893
Application date： Jun. 20, 2000
Publication date： Jan. 09, 2002
Summary：

【要約】【課題】 管内検査装置の速度が変化しても、欠陥の程度を正確に検出する方法を提供する。【解決手段】 図のようなデータを検査ピグの速度Vを変えて採取し、磁束密度Bとセンサ出力xとの関係式を、B=B(x,V)とする近似関数又はテーブルの形で保有しておく。そして、実際の検査においてセンサの出力xが得られたとき、そのときの検査ピグの速度Vを測定し、前記式に基づいて磁束密度Bを計算して、それに基づいて欠陥の程度を判別する。検査ピグの速度は、普通検査ピグの位置を測定するために設けられているオドメータの出力から検出することができる。

Claim (excerpt)：

配管内を走行し、漏洩磁束探傷法を用いて配管の欠陥を検出する管内検査装置において欠陥の程度を判別する方法であって、センサからの漏洩磁束信号を管内検査装置の走行速度で補正することにより、欠陥の程度を判別することを特徴とする管内検査装置における欠陥判別方法。

F-Term (10)：

2G053AA11 ,  2G053AB22 ,  2G053BA12 ,  2G053BC20 ,  2G053CA03 ,  2G053CB07 ,  2G053CB24 ,  2G053DA01 ,  2G053DB20 ,  2G053DB27