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J-GLOBAL ID:200903001770879983

表示装置の検査方法、検査装置及び評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 泉名 謙治 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997204997
Publication number (International publication number):1998096681
Application date: Jul. 30, 1997
Publication date: Apr. 14, 1998
Summary:
【要約】【課題】表示装置の表示むらを高精度で検査する。【解決手段】色むら及び/又は輝度むらを含む表示むらについての検査を行う表示装置の検査方法であって、むら領域22と周辺部分21、23との色及び/又は輝度の変化の大きさと、面内におけるむら領域22の幾何学的な大きさとの両者を用いて解析することを特徴とする表示装置の検査方法。
Claim (excerpt):
表示装置の表示画像を撮像手段によって撮像し、撮像画像を形成し、表示画像の表示むらの検査を行う表示装置の検査方法において、撮像画像に存在する表示むらを呈するむら領域と周辺部分との変化の大きさと、むら領域の幾何学的な大きさとを用いて数値演算することを特徴とする表示装置の検査方法。
IPC (2):
G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101
FI (2):
G01M 11/00 T ,  G02F 1/13 101
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
  • 特開平1-225296
  • 表示素子の色むら検出装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-002206   Applicant:株式会社日立製作所
  • 表示欠陥検査装置および表示欠陥検査方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-257830   Applicant:株式会社日立製作所
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Cited by examiner (4)
  • 特開平1-225296
  • 特開平1-225296
  • 表示素子の色むら検出装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-002206   Applicant:株式会社日立製作所
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