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J-GLOBAL ID:200903001857076720

光透過性フィルムの欠陥検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 西川 惠清 ,  森 厚夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007332903
Publication number (International publication number):2008180706
Application date: Dec. 25, 2007
Publication date: Aug. 07, 2008
Summary:
【課題】欠陥検出を高精度で行う。【解決手段】検査対象である光透過性フィルム1を搬送するフィルム搬送手段と、光透過性フィルムの外観を撮像する撮像部5と、撮像部で撮像される光透過性フィルムの背後に配された観察用補助部材2と、撮像部で得られた画像を分析して欠陥を検出する演算部6と、上記光透過性フィルムを観察用補助部材の表面に密着させるフィルム密着手段とを備える。上記観察用補助部材は光透過性フィルムが最終製品において貼り付けられる部材とほぼ同一の光反射特性を有している。【選択図】図1
Claim (excerpt):
検査対象である光透過性フィルムを搬送するフィルム搬送手段と、光透過性フィルムの外観を撮像する撮像部と、撮像部で撮像される光透過性フィルムの背後に配された観察用補助部材と、撮像部で得られた画像を分析して欠陥を検出する演算部とを備えているとともに、上記光透過性フィルムを観察用補助部材の表面に密着させるフィルム密着手段を備え、上記観察用補助部材は光透過性フィルムが最終製品において貼り付けられる部材とほぼ同一の光反射特性を有していることを特徴とする光透過性フィルムの欠陥検出装置。
IPC (1):
G01N 21/892
FI (1):
G01N21/892 A
F-Term (9):
2G051AA41 ,  2G051AB02 ,  2G051AC12 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CC07 ,  2G051CC11 ,  2G051DA06 ,  2G051ED08
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (7)
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