X線による検査方法及びX線検査装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：滝本智之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998114673
Publication number (International publication number)：1999304726
Application date： Apr. 24, 1998
Publication date： Nov. 05, 1999
Summary：

【要約】【課題】従来のX線撮影装置では、装置からの漏洩X線を低減するためにX線漏洩が多い検査対象物の搬入口と搬出口をX線発生部から離し、空気で漏洩X線を減衰させる必要があるため装置が大型となる。【解決手段】本発明のX線検査装置は、搬入口と搬出口にX線を遮蔽するための遮蔽シャッターを設ける。これによりX線発生中の漏洩X線を少なくし、小型のX線検査装置を実現することができる。

Claim (excerpt)：

X線源とX線センサとの間に検査対象物を搬入し、前記検査対象物の搬送路の搬入側と搬出側とを遮蔽するステップと、前記X線源からX線を照射し、前記X線センサにて前記検査対象物を透過したX線を検出するステップとからなる検査方法。

IPC (4)：

G01N 23/04 , G01B 15/00 , G01N 23/18 , H05K 3/00

FI (4)：

G01N 23/04 , G01B 15/00 A , G01N 23/18 , H05K 3/00 Q

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

X線非破壊検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-326079 Applicant：株式会社スタビック

Return to Previous Page