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J-GLOBAL ID：200903001957624687
電気光学的電界測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993327519
Publication number (International publication number)：1995181213
Application date： Dec. 24, 1993
Publication date： Jul. 21, 1995
Summary：
【要約】【目的】本発明は、電界強度の測定を高感度かつ高分解能に行うことのできる小型化の可能な電気光学的電界測定装置を提供する。【構成】本発明は、電気光学素子に光を透過させて被測定電界強度に応じたポッケルス効果による光学的な変化から電界強度を測定する電気光学的電界測定装置において、電気光学素子に入射した光を複数の反射手段により素子中の一点の近傍を繰り返し通過するように集中させるものである。【効果】本発明の構成によれば、素子中を透過する光の光路の増大に伴い高感度並びに小型化が可能となり、透過光の集中から一点の近傍の電界による効果を増大させることことにより、高空間分解能を持つ電気光学的電界測定装置を提供することができる。
Claim (excerpt)：
電気光学結晶から成る媒体に光を透過させて媒体の電界強度に応じた電気光学効果による光学的な性質の変化から電界強度を測定する電気光学的電界測定装置において、電気光学素子に入射した光を複数の反射手段により素子中の一点の近傍を繰り返し通過させることにより、その部位の電界強度を測定することを特徴とする電気光学的電界測定装置。
IPC (2)：
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