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J-GLOBAL ID：200903002055974029

測位用衛星受信機バイアスの測定方法及び装置

Inventor： 山崎 亮三
Applicant, Patent owner： 独立行政法人通信総合研究所
Agent (1)： 渡邊 敏
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001234490
Publication number (International publication number)：2003043128
Application date： Aug. 02, 2001
Publication date： Feb. 13, 2003
Summary：

【要約】【課題】 簡易な手段で、測位用衛星受信機ごとに受信機バイアスを少ない演算量で短時間に精度よく求める方法及び装置を提供すること。【解決手段】 測位用衛星からの周波数の異なる2つの搬送波を測位用衛星受信機によって受信し、その両搬送波位相と、測位用衛星と測位用衛星受信機との疑似距離から電離層全電子数を推定する方法において、測位用衛星受信機によって測定される視線方向の電離層全電子数(STEC)から鉛直方向の電離層全電子数(VTEC)に換算する際に、予め測定または入手しておいた測位用衛星の衛星コ-ドバイアスを用いると共に、測位用衛星受信機によって測定される視線方向の電離層全電子数(STEC)と、測位用衛星受信機から測位用衛星を仰ぐ仰角とから、所定の関係式を用いて測位用衛星受信機バイアスを求める。

Claim (excerpt)：

測位用衛星からの周波数の異なる2つの搬送波を測位用衛星受信機によって受信し、その両搬送波位相と、測位用衛星と測位用衛星受信機との疑似距離から電離層全電子数を推定する方法において、測位用衛星受信機によって測定される視線方向の電離層全電子数(STEC)から鉛直方向の電離層全電子数(VTEC)に換算する際に、予め測定または入手した測位用衛星の衛星コードバイアスを用いると共に、測位用衛星受信機によって測定される視線方向の電離層全電子数(STEC)と、測位用衛星受信機から測位用衛星を仰ぐ仰角とから、所定の関係式を用いて測位用衛星受信機バイアスを求めることを特徴とする測位用衛星受信機バイアス測定方法。

F-Term (2)：

5J062CC07 ,  5J062DD03