Pat
J-GLOBAL ID：200903002077870499

位置計測システム

Inventor：
瀬古 保次

About 瀬古 保次

, 
堀田 宏之

About 堀田 宏之

, 
佐口 泰之

About 佐口 泰之


Applicant, Patent owner：
富士ゼロックス株式会社

About 富士ゼロックス株式会社


Agent (2)： 古部 次郎 ,  千田 武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007237124
Publication number (International publication number)：2009068968
Application date： Sep. 12, 2007
Publication date： Apr. 02, 2009
Summary：
【課題】対象物の位置や角度を簡易かつ高精度に測定することができる位置計測システムを提供する。【解決手段】ターゲット10に配置された平面上の3つの基準マーカであって互いの位置関係が特定されている第1基準マーカ、およびこの平面から一定の距離にある1つの基準マーカであって第1基準マーカとの位置関係が特定されている第2基準マーカを撮影するカメラ20と、カメラ20により撮影された4つのマーカ画像の位置関係に基づき、第1基準マーカの画像と第2基準マーカの画像とを識別し、識別された第1基準マーカのマーカ画像および第2基準マーカのマーカ画像の位置関係に基づき、ターゲット10の三次元位置および三軸角度を演算する演算装置30とを備える。【選択図】図1
Claim 1：
対象物に配置された平面上の3つの基準点であって互いの位置関係が特定されている第1基準点、および当該平面から一定の距離にある1つの基準点であって当該第1基準点との位置関係が特定されている第2基準点を撮影する撮影手段と、 前記撮影手段により撮影された4つの基準点の画像の位置関係に基づき、前記第1基準点の画像と前記第2基準点の画像とを識別する識別手段と、 前記識別手段により識別された前記第1基準点の画像および前記第2基準点の画像の位置関係に基づき、前記対象物の三次元位置および三軸角度を演算する演算手段と を備えることを特徴とする位置計測システム。
IPC (5)：
G01B 11/00 ,  G01B 11/26 ,  G01C 3/06 ,  G01C 15/06 ,  G06T 1/00
FI (5)：
G01B11/00 H ,  G01B11/26 H ,  G01C3/06 120S ,  G01C15/06 T ,  G06T1/00 315
F-Term (26)：
2F065AA04 ,  2F065AA31 ,  2F065AA37 ,  2F065BB05 ,  2F065DD19 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF61 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ25 ,  2F065RR06 ,  2F065SS03 ,  2F065UU05 ,  2F112AD10 ,  2F112BA09 ,  2F112CA12 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DC03 ,  5B057DC06 ,  5B057DC08
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
Show all
Cited by examiner (6)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM