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J-GLOBAL ID:200903002101766509

トラヒックの品質の測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 磯村 雅俊 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999270242
Publication number (International publication number):2001094573
Application date: Sep. 24, 1999
Publication date: Apr. 06, 2001
Summary:
【要約】【課題】 被測定ネットワークおよびトラヒックに影響を与えることなくプロトコルの品質を評価し、「パケット損」、「応答時間」、「コネクション継続時間」、「セッション継続時間」の4つのサービス品質項目を継続的に、かつ同時に計測を行うことが可能なトラヒックの品質の測定装置を提供すること。【解決手段】 ATM交換機101と108間の回線105,107を光分岐装置104,106を介してトラヒック自体に変化を与えないまま計測装置111に取り込み、「パケット損」、「応答時間」、「コネクション継続時間」、「セッション継続時間」の品質測定を同時に、かつ継続的に行う。計測装置111は、トラヒック収集部112,フィルタリング処理部113,品質測定部114,CPU115,メモリ116,およびモニタ(表示装置)118およびキーボード119を接続するI/O制御部117から構成される。
Claim (excerpt):
交換機間を接続する回線のトラヒックの品質の測定装置であって、前記交換機間の回線を通過するパケットを分岐して取り込み、該取り込んだパケットに基づいて該回線のトラヒックに対応する品質を測定するようにしたことを特徴とするトラヒックの品質の測定装置。
IPC (6):
H04L 12/28 ,  H04L 12/24 ,  H04L 12/26 ,  H04L 12/56 ,  H04M 3/00 ,  H04M 3/36
FI (6):
H04M 3/00 E ,  H04M 3/36 C ,  H04L 11/20 D ,  H04L 11/08 ,  H04L 11/20 G ,  H04L 11/20 102 A
F-Term (17):
5K019AB06 ,  5K019BB21 ,  5K019CB04 ,  5K019CC09 ,  5K019DB08 ,  5K030GA11 ,  5K030HA08 ,  5K030JA10 ,  5K030JL03 ,  5K030MB01 ,  5K030MB13 ,  5K051AA03 ,  5K051BB02 ,  5K051CC02 ,  5K051DD14 ,  5K051FF03 ,  5K051HH27

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