Pat
J-GLOBAL ID:200903002217266520
図形測定装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
石戸 元 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998291005
Publication number (International publication number):2000121302
Application date: Oct. 13, 1998
Publication date: Apr. 28, 2000
Summary:
【要約】【課題】 直進型或いは極座標型のプラニメータにおいて、その測定範囲を変更でき、測定図形が通常の測定範囲の死角にあるときでも測定を継続することができるようにする。また、収納箱を小さくでき、測定の分解能を向上させる。【解決手段】 直進型或いは極座標型のプラニメータの測桿3の一部を折曲げ或いは測桿3を伸縮させて、測定範囲をその死角bに変更しうるようにする。また、測桿3の折曲げ或いは伸縮と関連してコンピュータを折曲げ測定モードに切り換える切換スイッチ9,9aを設ける。
Claim 1:
直進型或いは極座標型のプラニメータの測桿(3)の一部を折曲げ得るようにして、その測定範囲をその死角(b)に変更しうるようにしたことを特徴とする図形測定装置。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (13):
2F062AA03
, 2F062AA22
, 2F062AA81
, 2F062AA89
, 2F062CC30
, 2F062EE22
, 2F062GG21
, 2F062GG33
, 2F062GG38
, 2F062GG41
, 2F062GG51
, 2F062GG69
, 2F062GG90
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