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J-GLOBAL ID：200903002238306491
レーザダイオードの試験方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
岡本 啓三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992193910
Publication number (International publication number)：1994045700
Application date： Jul. 21, 1992
Publication date： Feb. 18, 1994
Summary：
【要約】 (修正有)【目的】レーザダイオードの符号誤り率の試験方法に関し、符号誤り率の試験工数の削減及び試験の効率化を図ることができるレーザダイオードの試験方法の提供。【構成】符号誤り率の測定に先立って行うレーザダイオードの試験であって、閾電流(I<SB>th</SB>)の実測値とバイアス電流(I<SB>b </SB>)及びパルス電流(I<SB>P </SB>)とを用い次式で求められたf=ln((α-k)/(α-1))α=(I<SB>b </SB>+I<SB>P </SB>)/I<SB>th</SB>k=I<SB>b </SB>/I<SB>th</SB>(k<1)fと、実測により別に取得された符号誤り率(BER)との対応関係を予め求め、かつ所望の符号誤り率が得られるように前記対応関係に基づいてfの範囲を予め設定しておき、試験すべきレーザダイオードのI<SB>th</SB>を測定して前記式によりfを取得することにより、fの設定範囲に入るレーザダイオードを選別する。
Claim (excerpt)：
符号誤り率の測定に先立って行うレーザダイオードの試験であって、レーザ発振の開始電流である閾電流(I<SB>th</SB>)の実測値と試験条件のバイアス電流(I<SB>b </SB>)及びパルス電流(I<SB>P </SB>)とを用いて、次式f=ln((α-k)/(α-1))但し、f=td/τntd:発振遅れ時間τn:注入キャリアのライフタイムα=I<SB>OP</SB>/I<SB>th</SB>I<SB>OP</SB>=I<SB>b </SB>+I<SB>P</SB>k=I<SB>b </SB>/I<SB>th</SB>(k<1)により取得されたfと、実測により別に取得された符号誤り率(BER)との対応関係を予め求め、かつ所望の符号誤り率が得られるように前記対応関係に基づいて前記fの範囲を予め設定しておき、試験すべきレーザダイオードの閾電流(I<SB>th</SB>)を測定して前記式によりfを取得することにより、前記fの設定範囲に入るレーザダイオードを選別することを特徴とするレーザダイオードの試験方法。
IPC (2)：
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