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J-GLOBAL ID：200903002364276301

サンプル測定装置

Inventor：
花谷 智則

About 花谷 智則

, 
谷口 功治

About 谷口 功治


Applicant, Patent owner：
アロカ株式会社

About アロカ株式会社


Agent (2)： 吉田 研二 ,  石田 純
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006108572
Publication number (International publication number)：2007278969
Application date： Apr. 11, 2006
Publication date： Oct. 25, 2007
Summary：
【課題】サンプル測定装置において、ラックから測定ユニットへ容器を送り込む場合に容器の倒れ込みを防止する。【解決手段】下ガイド34は上昇運動する容器13を収容し、それと共に上昇運動する。また容器13の下降時においても下ガイド34内に容器13が収容され、容器13の下降に伴って下ガイド34が下方へ運動する。これにより容器13が倒れ込もうとしてもそれは下ガイド34の内面によって規制される。【選択図】図1
Claim 1：
ラックから送り込まれたサンプル容器を収容し、当該サンプル容器内のサンプルに含有された放射線物質を測定する測定ユニットと、 前記ラックからサンプル容器を上昇させて前記測定ユニット内に送り込み、前記測定ユニット内からサンプル容器を下降させて前記ラックに戻す第1昇降機構と、 前記第1昇降機構による前記サンプル容器の昇降に際し、当該サンプル容器を収容してその起立状態を保持する中継案内部材と、 前記第1昇降機構による前記サンプル容器の昇降に際し、前記中継案内部材を昇降させる第2昇降機構と、 を含むことを特徴とするサンプル測定装置。
IPC (2)：
G01N 35/04 ,  G01T 7/08
FI (2)：
G01N35/04 G ,  G01T7/08 A
F-Term (12)：
2G058CB08 ,  2G058CB15 ,  2G058CB16 ,  2G058GA02 ,  2G058GE01 ,  2G088EE29 ,  2G088GG12 ,  2G088GG18 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ25 ,  2G088JJ29
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)

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