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J-GLOBAL ID:200903002365892898

壁面の画像・損害・修復情報登録管理システム及び方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 阿部 龍吉 (外7名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998361787
Publication number (International publication number):2000182059
Application date: Dec. 21, 1998
Publication date: Jun. 30, 2000
Summary:
【要約】【課題】 標定点の設置、計測なしに高解像度のモザイク画像を作成でき、病害の管理、修復情報の管理が容易に行えるようにする。【解決手段】 2段階撮影法によりステレオカメラにより撮影された壁面全体の左右のインデックス画像及び壁面を分割して隣とオーバーラップさせて撮影された複数の詳細画像のデータを登録する手段11、21、22と、複数の画像上で指定される複数の対応点に基づき画像の撮影位置、撮影方向を決定して対象物形状情報の作成を行う手段12〜14と、中心投影の画像を正射投影の画像に変換する手段15と、正射投影の画像を接合する手段16と、モザイク処理された詳細画像に基づき壁面の病害情報及び修復情報の登録、管理を行う手段17〜19とを備え、インデックス画像及び詳細画像のモザイク処理を行って壁面の詳細モザイク画像の作成を行う。
Claim (excerpt):
壁面の病害や損傷の修復のためのモザイク画像の作成、病害や損傷、修復履歴に係る情報の登録、管理を行う壁面の画像・損害・修復情報登録管理システムであって、壁面全体が撮影された左右のインデックス画像と壁面を分割して撮影された詳細画像からなる撮影画像及び撮影情報を登録する撮影画像登録処理手段と、前記撮影画像登録処理手段により登録された複数の画像上で指定される複数の対応点に基づき画像の撮影位置、撮影方向を決定して対象物の3次元の形状情報の作成を行う形状情報作成処理手段と、前記撮影位置、撮影方向、対象物形状情報に基づき前記撮影画像を中心投影の画像から正射投影の画像又は展開画像に変換する画像変換処理手段と、前記画像変換処理手段により変換された正射投影の画像又は展開画像を接合してモザイク画像を作成するモザイク処理手段と、前記モザイク処理手段により作成された詳細画像によるモザイク画像を背景にして前記壁面の病害や損傷の情報及び修復履歴情報の登録、管理を行う修復情報管理手段とを備え、前記左右のインデックス画像に基づき前記3次元の形状情報の作成を行って、前記3次元の形状情報を使用し前記詳細画像のモザイク処理を行い壁面のモザイク画像の作成を行うように構成したことを特徴とする壁面の画像・損害・修復情報登録管理システム。
IPC (5):
G06T 7/00 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G06F 17/60 ,  G06T 1/00
FI (5):
G06F 15/62 415 ,  G01B 11/00 H ,  G01B 11/24 K ,  G06F 15/21 Z ,  G06F 15/66 330 R
F-Term (44):
2F065AA04 ,  2F065AA49 ,  2F065AA54 ,  2F065BB13 ,  2F065CC14 ,  2F065DD06 ,  2F065FF05 ,  2F065FF21 ,  2F065GG10 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065NN01 ,  2F065NN11 ,  2F065PP05 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS11 ,  2F065TT08 ,  5B049AA06 ,  5B049BB05 ,  5B049CC11 ,  5B049DD00 ,  5B049EE03 ,  5B049EE07 ,  5B049GG00 ,  5B049GG07 ,  5B049GG09 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CD14 ,  5B057CE08 ,  5B057DB03 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC08 ,  5B057DC09
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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