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J-GLOBAL ID：200903002399842342

表面プラズモン共鳴を利用した測定装置

Inventor： 田島 信芳 ,  篠原 悦夫 ,  近藤 聖二 ,  越石 喜代三 ,  下村 政嗣 ,  山口 一郎 ,  岡本 隆之
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社 ,  理化学研究所
Agent (1)： 杉村 暁秀 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992286189
Publication number (International publication number)：1994167443
Application date： Oct. 23, 1992
Publication date： Jun. 14, 1994
Summary：

【要約】【目的】 表面プラズモン共鳴を利用した測定装置において、刺激に対する試料の状態変化を測定できる表面プラズモン共鳴を利用した測定装置を提供する。【構成】 表面プラズモン顕微鏡(2,21)と化学・バイオセンサ(41,42,51,52,53)、または表面プラズモン顕微鏡および化学・バイオセンサと外部刺激手段(3,31,32,111) および/または他の測定手段(61,71,81,91,101) 、あるいは表面プラズモン顕微鏡と外部刺激手段および/または他の測定手段とを設けて試料を測定・分析する。

Claim (excerpt)：

金属薄膜の一方の面に誘電体試料を接触させるとともに、この金属薄膜の他方の面に全反射の条件で偏光光を入射して表面プラズモン共鳴を誘起させ、その反射光を検出することで、前記誘電体試料の状態を測定する表面プラズモン測定手段と、前記誘電体試料に物理的又は化学的な刺激を加える刺激手段とを備え、この刺激手段により刺激された前記誘電体試料の状態変化を前記表面プラズモン測定手段により測定するように構成したことを特徴とする表面プラズモン共鳴を利用した測定装置。

IPC (3)：

G01N 21/27 ,  G01B 11/06 ,  G01N 21/77

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平2-297053
  
• 特開平4-116452
  
• 特開平2-297053
  
• 特開平4-116452