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J-GLOBAL ID：200903002442048167

平面アンテナ付き電子回路装置の試験方法

Inventor： 菅原 秀夫
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 松本 昂
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991184784
Publication number (International publication number)：1993026938
Application date： Jul. 24, 1991
Publication date： Feb. 05, 1993
Summary：

【要約】【目的】平面アンテナを備えたカード型の電子回路装置において、製造歩留りを向上し、製造コストの低減を図ることを目的とする。【構成】アンテナとの結合用パターン12を含む回路パターン13が形成されているとともに、電子部品15〜20が実装されたプリント基板11を、樹脂で被覆してカード状に形成した後に、該樹脂表面にアンテナパターンを形成してなる平面アンテナ付き電子回路装置の試験方法において、前記プリント基板11を樹脂で被覆する以前に、前記結合用パターン12と試験器21のアンテナ22を結合させて試験を実施し、その後に前記樹脂被覆、アンテナパターン形成を行う。

Claim (excerpt)：

アンテナとの結合用パターン(12)を含む回路パターンが形成されているとともに、電子部品 (15〜20) が実装されたプリント基板(11)を、樹脂(23)で被覆してカード状に形成した後に、該樹脂(23)表面にアンテナパターン(24)を形成してなる平面アンテナ付き電子回路装置の試験方法において、前記プリント基板(11)を樹脂(23)で被覆する以前に、前記結合用パターン(12)と試験器(21)のアンテナ(22)を結合させて試験を実施し、その後に前記樹脂被覆、アンテナパターン形成を行うことを特徴とする平面アンテナ付き電子回路装置の試験方法。

IPC (2)：

G01R 31/00 ,  H01Q 13/08