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J-GLOBAL ID:200903002458756463

不確かさを求める機能を備えた計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 野口 繁雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002174320
Publication number (International publication number):2004020323
Application date: Jun. 14, 2002
Publication date: Jan. 22, 2004
Summary:
【課題】計測データの合成不確かさ求めて表示するための作業時間を短縮する。【解決手段】既知不確かさ保持部4に測定部2の器具公差の不確かさUc[器具公差]と器具操作の不確かさUc[器具操作]を保持しておく。検量線不確かさ算出部6は測定部2が標準試料を測定したときの検量線の不確かさUc[検量線]を算出する。測定部2で未知試料を測定すると、未知試料不確かさ算出部8はそのときの未知試料測定値に対する不確かさUc[未知試料]を算出する。合成不確かさ算出部10はこれらの不確かさUc[器具公差]、Uc[器具操作]、Uc[検量線]及びUc[未知試料]を合成して合成不確かさUcを算出し、表示部12がその算出された合成不確かさUcを未知試料の測定値とともに表示する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
試料の化学量又は物理量を定量測定する測定部と、 前記測定部の器具公差の不確かさUc[器具公差]及び器具操作の不確かさUc[器具操作]を保持する既知不確かさ保持部と、 前記測定部が標準試料を測定したときの検量線の不確かさUc[検量線]を算出する検量線不確かさ算出部と、 前記測定部が未知試料を測定したときの未知試料測定値に対する不確かさUc[未知試料]を算出する未知試料不確かさ算出部と、 これらの不確かさを合成して合成不確かさUcを算出する合成不確かさ算出部と、 前記合成不確かさ算出部が算出した合成不確かさUcを未知試料の測定値とともに表示する表示部とを備えたことを特徴とする計測装置。
IPC (3):
G01D3/00 ,  G01N27/62 ,  G01N30/86
FI (4):
G01D3/00 B ,  G01N27/62 D ,  G01N30/86 D ,  G01N30/86 J
F-Term (4):
2F075AA05 ,  2F075AA10 ,  2F075EE18 ,  2F075FF03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 濃度計算装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-274613   Applicant:株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
  • データ処理装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-095335   Applicant:株式会社島津製作所
  • クロマトグラム解析表示方法及びその装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-041007   Applicant:株式会社日立製作所
Article cited by the Patent:
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