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J-GLOBAL ID：200903002465274040

試料断面からの立体情報画像化装置及びその試料断面画像の観察方法

Inventor： 樋口 俊郎 ,  青木 勇 ,  工藤 謙一 ,  小林 賢知
Applicant, Patent owner： 財団法人神奈川科学技術アカデミー
Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993044088
Publication number (International publication number)：1994258578
Application date： Mar. 04, 1993
Publication date： Sep. 16, 1994
Summary：

【要約】【目的】 従来の切片観察法での透過顕微鏡像に近い色情報を用いられる光源(例えば、リングライト)を用いた透明試料の色観察と、マイクロスライサを用いた切断面観察の利点を活かした対物レンズの光軸と直交方向の一断面抽出を行うことができる生体試料断面からの立体情報画像化装置を提供する。【構成】 試料の表層を順次除去し、該試料の表面を観察する試料断面からの立体情報画像化装置において、透過材料に包埋される試料21と、該試料21に対向する対物レンズ23と、該対物レンズ23に直接反射光が入射しないように配置するリングライト24を設け、該リングライト24からの照射により前記試料21の表層の画像と該表層に続く内部の画像を得て、該試料の表層を除去し、該除去により現れる新たな表層の画像と該表層に続く内部の画像を得る撮像手段と、前記撮像手段からの画像を処理して、色情報及び前記対物レンズの光軸と直交方向の一断面像の抽出を行う。

Claim (excerpt)：

試料の表層を順次除去し、該試料の表面を観察する試料断面からの立体情報画像化装置において、(a)透過材料に包埋される試料と、(b)該試料に対向する対物レンズと、(c)該対物レンズに直接反射光が入射しないように配置する光源と、(d)該光源からの照射により前記試料の表層の画像と該表層に続く内部の画像を得て、該試料の表層を除去し、該除去により現れる新たな表層の画像と該表層に続く内部の画像を得る撮像手段と、(e)前記撮像手段からの画像を処理して、色情報及び前記対物レンズの光軸と直交方向の一断面像の抽出を行う手段とを具備することを特徴とする試料断面からの立体情報画像化装置。

IPC (2)：

G02B 21/00 ,  G06F 15/72 450

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-358112
  
• 特開昭60-212716
  
• 特開昭62-059913