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J-GLOBAL ID：200903002465442563

エアギャップ可変式分光透過率可変素子のエアギャップ基準位置調整方法、エアギャップ可変式分光透過率可変素子のエアギャップ基準位置調整構造、及びエアギャップ可変式分光透過率可変素子のエアギャップ基準位置調整構造を備えた光学装置

Inventor：
長谷川 晃

About 長谷川 晃


Applicant, Patent owner：
オリンパス株式会社

About オリンパス株式会社


Agent (2)： 篠原 泰司 ,  藤中 雅之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004129782
Publication number (International publication number)：2005308688
Application date： Apr. 26, 2004
Publication date： Nov. 04, 2005
Summary：
【課題】簡単な構成及び方法でエアギャップ可変式分光透過率可変素子のエアギャップを高精度に制御可能なエアギャップ基準位置調整方法を提供する。 【解決手段】分光透過率可変素子35に印加する電圧を段階的に変化させながら、各電圧印加時において撮像素子36で受光される光の強度をモニターし、該モニターした光の強度の値が分光透過率不変素子34の分光透過率特性にしたがて急激に変化したときの分光透過率可変素子35に印加した電圧の値に基づいて、エアギャップの基準位置とするための基準印加電圧値を求め、該基準印加電圧値と当該基準印加電圧値に対応する分光透過率不変素子34の波長を記憶領域に設定し、該設定した基準印加電圧値及び波長に基づいて、所望の分光透過率特性を得るための分光透過率可変素子35への印加電圧値を求め、分光透過率可変素子35のエアギャップを制御する。【選択図】 図6
Claim (excerpt)：
光源から被観察物体へ光を照射し、被観察物体からの光を撮像素子に導くように構成された、光源から撮像素子までの光路上に、エアギャップ可変式の分光透過率可変素子と、所定の波長領域の光を透過しそれ以外の波長領域の光を遮断する分光透過率特性を有する分光透過率不変素子とを配置し、 前記光源から光を撮像素子で受光されるように照射した状態で、前記分光透過率可変素子に印加する電圧を段階的に変化させながら、各電圧印加時において前記撮像素子で受光される光の強度をモニターし、 該モニターした光の強度の値が前記分光透過率不変素子の分光透過率特性にしたがって急激に変化したときの前記分光透過率可変素子に印加した電圧の値に基づいて、エアギャップの基準位置とするための基準印加電圧値を求め、該基準印加電圧値と当該基準印加電圧値に対応する前記分光透過率不変素子の波長を記憶領域に設定し、 該設定した基準印加電圧値及び波長に基づいて、所望の分光透過率特性を得るための前記分光透過率可変素子への印加電圧値を求め、該求めた値の電圧を前記分光透過率可変素子に印加して、該分光透過率可変素子のエアギャップを制御することを特徴とするエアギャップ可変式分光透過率可変素子のエアギャップ基準位置調整方法。
IPC (6)：
G01N21/64 ,  A61B1/00 ,  A61B1/04 ,  A61B19/00 ,  G02B23/26 ,  G02B26/02
FI (7)：
G01N21/64 F ,  A61B1/00 300D ,  A61B1/00 300Y ,  A61B1/04 372 ,  A61B19/00 501 ,  G02B23/26 A ,  G02B26/02 E
F-Term (58)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA01 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA06 ,  2G043GA02 ,  2G043GB02 ,  2G043GB11 ,  2G043GB18 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043JA03 ,  2G043JA08 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043NA05 ,  2G043NA06 ,  2H040CA01 ,  2H040CA21 ,  2H040GA02 ,  2H041AA02 ,  2H041AB14 ,  2H041AB15 ,  2H041AB16 ,  2H041AC08 ,  2H041AZ02 ,  2H041AZ06 ,  4C061CC06 ,  4C061FF40 ,  4C061FF47 ,  4C061HH51 ,  4C061HH56 ,  4C061LL02 ,  4C061LL03 ,  4C061MM01 ,  4C061MM03 ,  4C061NN01 ,  4C061NN05 ,  4C061PP12 ,  4C061QQ02 ,  4C061QQ03 ,  4C061QQ04 ,  4C061QQ09 ,  4C061RR04 ,  4C061RR14 ,  4C061RR17 ,  4C061RR22 ,  4C061SS11 ,  4C061SS21 ,  4C061WW08 ,  4C061WW10 ,  4C061WW17 ,  4C061WW18
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (3)
  • 特開昭63-271308
  • ガス監視装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-169023   Applicant：ホーチキ株式会社, 奥山雅則
  • 画像診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-077687   Applicant：ホーチキ株式会社, 奥山雅則

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