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J-GLOBAL ID：200903002507729540

自動分析装置

Inventor： 高橋 克明 ,  渋谷 武志
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996269620
Publication number (International publication number)：1998115619
Application date： Oct. 11, 1996
Publication date： May. 06, 1998
Summary：

【要約】【課題】試料プローブ先端部の表面荒さ,汚れにより分注精度が左右されないように、プローブを新品の状態に維持する。【解決手段】プローブ18の可動軌跡上に、柔らかい布を巻き付けたバフローラ20方式の研磨器を設ける。メンテナンス司令により、プローブ18を研磨器2上に移動させ、1日1回磨きを行う。

Claim (excerpt)：

試料と試薬を反応容器に分注して混合し、反応の変化を観察することにより上記試料の成分を分析する自動分析装置において、上記試料あるいは上記試薬を分注するプローブの外壁を研磨する研磨器を備えたことを特徴とする自動分析装置。