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J-GLOBAL ID：200903002514867990

自動分析装置

Inventor： ▲塙▼ 恵理 ,  三村 智憲
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994219816
Publication number (International publication number)：1996086784
Application date： Sep. 14, 1994
Publication date： Apr. 02, 1996
Summary：

【要約】【目的】患者検体測定の際に、未測定検体または再測定待ち状態の検体の排除等の検体の誤設置をなくし、検体依頼の操作における誤操作を少なくできる自動分析装置の機能を提供することにある。【構成】生体試料を分析するための自動分析装置であって、操作部に分析部で測定した検体ディスク2のポジションもしくは未測定である等のポジションの情報を記憶し、検体の測定依頼時に試料ディスク2のポジションの情報にしたがって検体設置可能なポジションのみを自動的に画面表示部21に表示する。

Claim (excerpt)：

試料容器配列部の試料容器から反応ライン上の反応容器へ試料を分注し、上記反応ライン上の反応容器へ試薬液を分注する分析部と、この分析部の動作を制御し上記分析部より得られた測定データを処理する操作部から構成される自動分析装置において、上記操作部は、上記試料容器配列部の各ポジションが使用可能であるか否かの情報を記憶する記憶部と、その情報にしたがってどのポジションが検体の追加設置が可能であるかを判断する判断部と、検体設置可能ポジションを画面表示する表示部とを備えたことを特徴とする自動分析装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 自動化学分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-234939   Applicant：株式会社東芝