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J-GLOBAL ID:200903002515221385
酸化シリコン膜の製造方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
梶 良之
, 須原 誠
, 竹中 芳通
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008034818
Publication number (International publication number):2009191331
Application date: Feb. 15, 2008
Publication date: Aug. 27, 2009
Summary:
【課題】基材上に酸化シリコン膜を形成するに際し、大気圧プラズマを利用することにより、減圧装置などの複雑化による装置全体の大型化や装置コストの上昇を招くことなく、かつ、焼付け処理や乾燥処理が不要な簡易な方法で大型の基材の成膜を行うことができるようにした、酸化シリコン膜の製造方法を得ること。【解決手段】表面にハイドロジェン変性シリコーンが塗布された基材を、互いに対向する電極間に配置し、大気圧雰囲気下において前記電極間に高周波電力又は直流電力を印加して発生させたグロー放電プラズマにより前記基材表面におけるハイドロジェン変性シリコーンを分解し、前記基材上に酸化シリコン膜を形成する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
表面にハイドロジェン変性シリコーンが塗布された基材を、互いに対向する電極間に配置し、大気圧雰囲気下において前記電極間に高周波電力又は直流電力を印加して発生させたグロー放電プラズマにより前記基材表面におけるハイドロジェン変性シリコーンを分解し、前記基材上に酸化シリコン膜を形成することを特徴とする酸化シリコン膜の製造方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (15):
4K030AA00
, 4K030AA16
, 4K030BA44
, 4K030CA06
, 4K030CA17
, 4K030DA02
, 4K030EA01
, 4K030FA03
, 4K030JA03
, 4K030JA09
, 4K030JA10
, 4K030JA16
, 4K030KA16
, 4K030KA23
, 4K030LA24
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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細長部材の欠陥検出方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-277958
Applicant:独立行政法人理化学研究所
Cited by examiner (5)
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表面の改質方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-255090
Applicant:松下電工株式会社, 岡崎幸子, 小駒益弘
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特開昭60-235711
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ガラス用撥水処理剤
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-079883
Applicant:シーシーアイ株式会社
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