Pat

J-GLOBAL ID：200903002528113450

透過電子顕微鏡用試料傾斜装置

Inventor： 鈴木 茂
Applicant, Patent owner： 新日本製鐵株式会社
Agent (1)： 矢葺 知之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992046593
Publication number (International publication number)：1993251025
Application date： Mar. 04, 1992
Publication date： Sep. 28, 1993
Summary：

【要約】【目的】 操作性に優れた二軸の試料回転機構を有する透過電子顕微鏡用試料傾斜装置を提供する。【構成】 二軸の試料回転機構を有する透過電子顕微鏡用試料ステージにおいて、二軸の回転機構を一つの操作装置により同時に操作し、任意の方向に試料を傾斜させる。【効果】 特に結晶性試料の観察において試料を所望の結晶方位に回転させるときに、従来方法よりも簡便に試料を回転させることができる。そのため、透過電子顕微鏡において回折図形およびその条件下で像を観察するときの操作性が一段と向上する。

Claim (excerpt)：

二軸の試料回転機構を有する透過電子顕微鏡用試料傾斜装置において、透過電子顕微鏡鏡体に挿入した試料ホルダー(13)を試料ホルダー(13)の長手方向の軸の回りに回転させる電動機(2)と試料ホルダー先端部の試料台(14)を試料台(14)を支持する軸(15)のまわりに回転させる電動機(3)を同時に駆動させる二軸の試料回転制御操作装置(6)であって、試料(16)を装着した試料台(14)を任意の方向に所定の角度だけ傾斜させる機構を有することを特徴とする透過電子顕微鏡の試料傾斜装置。