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J-GLOBAL ID：200903002561209497

超音波診断装置

Inventor： 阿部 芳孝
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 井桁 貞一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992235989
Publication number (International publication number)：1994078927
Application date： Sep. 03, 1992
Publication date： Mar. 22, 1994
Summary：

【要約】【目的】表示部に表示された拡大画像が、断層像のどの領域を拡大しているかを容易に把握できる超音波診断装置を提供する。【構成】断層像内の一部領域を指定し、この一部領域の拡大画像を表す第1の信号を生成し、さらに断層像の輪郭とこの一部領域を示すマーカとを表す第2の信号を生成し、第1の信号と第2の信号とを合成して、表示部に拡大画像と断層像の輪郭及びマーカとを表示する。

Claim (excerpt)：

被検体に超音波を送信し、該被検体内で反射された超音波を受信して受信信号を得、該受信信号に基づいて被検体の断層像を表す超音波診断装置において、前記断層像内の一部領域を指定する指定手段と、該一部領域の拡大画像を表す第1の信号を生成する第1信号生成手段と、前記断層像の輪郭と前記一部領域を示すマーカとを表す第2の信号を生成する第2信号生成手段と、前記第1の信号と前記第2の信号とを合成して、前記拡大画像と、前記断層像の輪郭及び前記マーカとを表示する表示手段とを備えたことを特徴とする超音波診断装置。

IPC (2)：

A61B 8/14 ,  G01N 29/22 505

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-185251
  
• 特開昭61-238237
  
• 特開昭59-020155