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J-GLOBAL ID：200903002581156659

観察モード切替え装置

Inventor： 長谷川 恒夫
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997288231
Publication number (International publication number)：1999125772
Application date： Oct. 21, 1997
Publication date： May. 11, 1999
Summary：

【要約】【課題】 金属顕微鏡観察とコンフォーカル顕微鏡観察との間で観察モードを切り替える場合、オペレーターは切替えノブを操作することなく、常に適正な条件で観察できる。【解決手段】 観察モード切替え装置に、観察モードに応じて、金属顕微鏡における明視野検鏡状態と暗視野検鏡状態とを切り替えるための照明ブロックの位置を自動的に移動させる機能を与える。

Claim (excerpt)：

金属顕微鏡による観察とコンフォーカル顕微鏡による観察との間で観察モードの切替えを行うための観察モード切替え装置において、前記いずれかの観察モードに応じて、金属顕微鏡における明視野検鏡状態と暗視野検鏡状態とを切り替えるための照明ブロックの位置を自動的に移動させることを特徴とする観察モード切替え装置。

IPC (3)：

G02B 21/18 ,  G02B 21/10 ,  G02B 21/12

FI (3)：

G02B 21/18 ,  G02B 21/10 ,  G02B 21/12