Pat
J-GLOBAL ID:200903002607233266
粒子状物質分析装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
藤本 英夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003371486
Publication number (International publication number):2005134270
Application date: Oct. 31, 2003
Publication date: May. 26, 2005
Summary:
【課題】 大気等のサンプルガス中に含まれる粒子状物質の質量、濃度の測定と、前記粒子状物質が含有する成分の分析とを容易かつ確実に行うことができる粒子状物質分析装置を提供すること。 【解決手段】 サンプルガスS中の粒子状物質2を捕集する捕集手段3と、前記粒子状物質2の質量を測定する質量測定手段4と、前記捕集手段3により捕集した粒子状物質2中の成分を分析するための成分分析手段9とを備えた。 【選択図】 図1
Claim (excerpt):
サンプルガス中の粒子状物質を捕集する捕集手段と、前記粒子状物質の質量を測定する質量測定手段と、前記捕集手段により捕集した粒子状物質中の成分を分析するための成分分析手段とを備えたことを特徴とする粒子状物質分析装置。
IPC (4):
G01N23/223
, G01N1/02
, G01N15/06
, G01N23/12
FI (5):
G01N23/223
, G01N1/02 D
, G01N1/02 G
, G01N15/06 D
, G01N23/12
F-Term (39):
2G001AA01
, 2G001AA03
, 2G001BA04
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001CA03
, 2G001DA01
, 2G001DA06
, 2G001GA01
, 2G001JA09
, 2G001JA12
, 2G001KA01
, 2G001KA20
, 2G001LA02
, 2G001LA09
, 2G001MA04
, 2G001PA01
, 2G001PA11
, 2G001PA17
, 2G052AA01
, 2G052AB00
, 2G052AC02
, 2G052AD04
, 2G052AD24
, 2G052AD52
, 2G052BA05
, 2G052BA22
, 2G052CA03
, 2G052CA12
, 2G052DA22
, 2G052EA03
, 2G052ED09
, 2G052GA08
, 2G052GA09
, 2G052GA11
, 2G052GA19
, 2G052JA06
, 2G052JA09
, 2G052JA16
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
Zn含有ダストの分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-244019
Applicant:新日本製鐵株式会社
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