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J-GLOBAL ID：200903002614041461

X線断層撮影装置

Inventor： 越柴 洋哉 ,  吉井 美保子
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 武 顕次郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998372934
Publication number (International publication number)：1999248648
Application date： Jun. 17, 1992
Publication date： Sep. 17, 1999
Summary：

【要約】【課題】 対象物内部の焦点面以外での像をぼかした状態で、X線断層像を鮮明かつ高解像度に撮影し、かつ、実時間で表示すること。【解決手段】 X線源と、撮影対象となる対象物を回転させる手段と、前記X線源から発射されて前記対象物を透過したX線の像を検出する手段と、該検出する手段によって検出された透過X線の画像を前記対象物の回転と同期させて回転処理する手段と、該回転処理する手段によって回転させた前記画像を実時間で加算する加算手段と、該加算手段によって実時間で加算された画像を映像情報として表示する表示手段とを備える。

Claim (excerpt)：

X線源と、撮影対象となる対象物を回転させる手段と、前記X線源から発射されて前記対象物を透過したX線の像を検出する手段と、該検出する手段によって検出された透過X線の画像を前記対象物の回転と同期させて回転処理する手段と、該回転処理する手段によって回転させた前記画像を実時間で加算する加算手段と、該加算手段によって実時間で加算された画像を映像情報として表示する表示手段とを備えたX線断層撮影装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平1-121742
  
• 特開平2-296137
  
• ラミノグラフ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-325769   Applicant：株式会社東芝
• 断層撮影装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-337460   Applicant：株式会社東芝